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leeb451/452粗糙度仪
技术参数:
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Leeb451 |
leeb452 |
测量参数 |
Ra、Rz、Rq、Rt |
Ra、Rz |
测量范围 |
Ra:0.05-10.0μm;Rz:0.1-50μm |
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取样长度 |
0.25mm、0.8mm、2.5mm |
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评定长度 |
1.25mm、4mm、5mm |
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扫描长度 |
6mm |
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示值误差 |
≤±15% |
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示值变动性 |
<12% |
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传感器类型 |
压电晶体 |
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电源 |
3.7V锂离子电池 |
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工作温度 |
0℃-40℃ |
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重量 |
200g |
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外形尺寸 |
106x70x24mm |
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标准配置 |
主机、电源适配器、多刻线样板(粗糙度标准块) |
如需详细技术资料,欢迎来电咨询索取:400 996 5117
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