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WP1一米平面光栅摄谱仪--商品详情
WP1一米平面光栅摄谱仪
性能特点
光学系统采用艾伯特垂直对称形式装置,慧差及象散可矫正到理想程度,
在较长谱面范围内谱线清晰,结构均匀。
仪器采用三透镜消色差照明方法,狭缝得到均匀照明,使同一条谱线黑
度均匀。
仪器缝前的哈特曼光栏盘上设置哈特曼及三阶,九阶减光板。
使用控制箱控制射谱过程。
仪器配备直流电弧,交流电弧光源,以及适应不同分析任务的需要。
仪器配置工作台,安装和操作方便。
应用领域
WP1型平面光栅舍普仪是在200nm-800nm波段范围内作发射光谱分析的
仪器。
广泛地应用于地址、冶金、机械、石油化工等部门光谱定量和定性分析。
如需详细技术资料,欢迎来电咨询索取:400 996 5117
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